《表5 镀液温度对镀层XRD衍射峰特征的影响》

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《无氰镀银镀层的XRD研究》

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图5给出了不同温度对样品XRD衍射图样的影响。利用高斯函数对每个峰拟合确定其峰位、相对峰面积和半峰宽。利用半峰宽并结合Scherrer公式（式5）得到每个晶面的颗粒尺寸。具体结果汇总于表5。比较表5我们可以看出峰位和相对积分面积没有明显的变化规律。但是半峰宽，即对应晶面的晶粒尺寸表现了明显的温度依赖性。升高温度使衍射峰的半峰宽减少，由此计算得到的晶粒尺寸随温度升高而增加。仔细比较还可以发现，30~35°C晶粒尺寸变化最为明显。例如（111）面的衍射，此温度变化导致晶粒尺寸增加了3.0 nm，但是35~40°C仅增加了0.7 nm，40~45°C增加了0.9 nm。其他晶面也有类似的特点。可见，在推荐的工艺温度区间（35~43°C），镀层表现了良好的一致性，当超出此范围，镀层性质明显变化，导致其性能下降。