《表5 自闭症儿童与典型发展儿童的情绪性能指标(M±SD)》

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《正负面情绪刺激下自闭症谱系障碍儿童的脑电信号分析》

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对自闭症儿童与典型发展儿童之间的情绪性能指标进行t检验（表4），发现在正负面两种情绪刺激下，自闭症儿童与典型发展儿童之间的压力值（P=0.005<0.05；P=0.04<0.05）以及放松值（P=0.03<0.05；P=0.04<0.05）均有显著性差异.结合表5我们发现，在正面情绪下，自闭症儿童的压力值要显著高于典型发展儿童，放松值则显著低于典型发展儿童；在负面情绪下差异相反.自闭症组儿童所表现出的兴趣度没有典型发展儿童高，压力值会影响儿童的注意力、学习等能力.就自闭症儿童自身而言在正面情绪下有着更高水平的参与度与兴趣度.