《表7:高频数据下负面信息集中释放与股价崩盘风险的面板回归结果》
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《股价崩盘风险指标是可靠的吗——基于中国上市公司违规数据库的检验》
注:*、**、***分别表示在10%、5%和1%的水平下显著相关。
为了识别高频数据下负面信息集中释放1阶滞后项给Crash、NCSKEW及DUVOL带来的效果差异,运用SUEST方法,对面板回归系数之间的差异进行比较。表9显示,Crash、NCSKEW及DUVOL在高频数据下负面信息集中释放1阶滞后项系数之间的差异,与低频数据下负面信息集中释放系数之间的差异一致。这一结果再次验证了前文在低频数据下得到结论,即:Crash指标对股价崩盘风险的测度最准确,而NCSKEW和DOUVL指标比Crash指标略次之。
图表编号 | XD00162905900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.05.25 |
作者 | 董永琦、丘彦强、肖万 |
绘制单位 | 华南理工大学工商管理学院财务管理系 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |