《表1 被测器件的基本参数》

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《半导体器件静态直流参数能力比对方法》

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航天测试选取昆山晶体管厂有限公司生产的3只晶闸管3CT4KDJ和振华风光半导体厂（4433厂）生产的5只采样保持器FX198作为被测器件，晶闸管3CT4KDJ和采样保持器FX198各取1只作为比对用，其余均作为备用。为尽可能地减少客观影响，对器件的测试条件和合格判限进行统一规定，器件测试的操作要求按照本实验室作业指导书进行，并随器件一并提供。被测器件的基本参数详见表1。