《表2 不同含量Bi2O3掺杂的ZnO压敏电阻电气性能参数》

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《不同添加物掺杂对氧化锌压敏电阻的改性研究》

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可知，ZnO晶粒尺寸随着Bi2O3含量的增加而增大，但Bi2O3含量增加到2.1%时，晶粒尺寸呈现饱和趋势。这主要是因为由于Bi2O3含量的增加，烧结过程中晶界液相比例明显增加，大量液相传质的作用，导致ZnO晶粒更容易结合生长，最终导致ZnO晶粒尺寸明显增加。但当Bi2O3含量超过一定程度后，尖晶石在晶粒与晶粒间的三角区位置析出积聚，对晶粒尺寸几乎无抑制作用。各样品的电气性能参数，见表2。可知，随着Bi2O3含量的增加，非线性系数α逐渐增大，而电压梯度E1 mA下降到一定程度以后保持稳定，这一现象与晶粒尺寸增大的饱和现象结论一致。增加Bi2O3含量对抑制ZnO压敏电阻的泄漏电流IL具有较为明显的效果，当Bi2O3含量增加至2.1%时，其泄漏电流IL从19.69μA下降至最低的3.48μA。因此，ZnO压敏电阻配方中，选取较为优化的Bi2O3添加量为2.1%。