《表2回归方程各项的方差分析》

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《响应面法优化相变胶囊的包覆工艺》

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注：P<0.05，显著（*）；P>0.05，不显著（—）。

图3三维响应面图直观地展现芯壁比、超声时间和温度这三个因素的主要作用和相互作用。图3中的响应面表明，包埋率提高到最大值，随后从最高值降低。此外，随着制备过程中固化温度和超声时间的改善，包埋率没有显著变化，这表明芯壁比对包埋率的影响比温度和超声时间更显著。结果表明，芯壁比是影响包埋率的主要因素，其结果与ANOVA测试的结论相吻合。当增加DPGDA的量时，壳厚度逐渐增加，导致包埋率也增加。因此，可以通过控制添加聚合物的量来制备具有可控壳厚度和包埋率的纳米胶囊。从图3中可以看出，超声时间对包埋率的影响比固化温度更显著。原因是超声时间的增加导致粒径减小，而较长的超声时间导致纳米胶囊易破裂。超声时间对纳米胶囊直径和包埋率的影响现象是由于乳化过程中存在的三种力的平衡关系引起的。当超声时间短时，大量的乳化剂分散在水相中而不与十八烷完全接触，这将导致体系稳定性下降。当其他因素不变时，随着超声时间的增长，纳米胶囊的直径先减小，然后增大。由此得到了本实验最佳参数：芯壁比为3.67∶1，超声时间为4.63 min，温度为76.548℃。通过RSM计算得出的理论最高包埋率为91.4%。根据实际情况，将基于RSM的最佳实验条件的参数设定如下：芯壁比为3.7∶1，超声时间为5 min，温度为77℃。通过上述最佳条件合成的相变纳米胶囊的包封率高达90.6%。因此，表明RSM模型可以准确预测最高的包埋率。