《表1 对比总结:一种新型亚阈值SRAM单元设计》
5种单元各种指标的仿真对比总结见表1,可以看出新型12T单元集合了其他4种单元的各种优点,很好地均衡了稳定性、写能力、漏电与访问速度,并且同时具有位线漏电补偿和适用与位交织的特性。
图表编号 | XD00133043300 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.02.25 |
作者 | 孔得斌、乔树山、袁甲 |
绘制单位 | 中国科学院微电子研究所、中国科学院微电子研究所、中国科学院微电子研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
5种单元各种指标的仿真对比总结见表1,可以看出新型12T单元集合了其他4种单元的各种优点,很好地均衡了稳定性、写能力、漏电与访问速度,并且同时具有位线漏电补偿和适用与位交织的特性。
图表编号 | XD00133043300 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.02.25 |
作者 | 孔得斌、乔树山、袁甲 |
绘制单位 | 中国科学院微电子研究所、中国科学院微电子研究所、中国科学院微电子研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |