《表1 划痕实验参数:基于纳米划痕的单晶锗脆塑转变实验研究》
纳米划痕实验在美国Aglien公司生产的Nano indenter G200纳米压痕仪上进行。采用曲率半径为50nm的Berkovich金刚石针尖,分别取3种不同晶面的单晶锗片(100)、(110)和(111)。划痕实验参数如表1所示。
图表编号 | XD0011281600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.10.01 |
作者 | 杨晓京、赵彪、罗良 |
绘制单位 | 昆明理工大学、昆明理工大学、昆明理工大学 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |