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目录1

空间军用的可靠半导体器件的制造1

金属化的失效22

水在氧化膜中的沾污76

微波固体器件的可靠性物理研究102

半导体器件鉴定与失效分析中采用红外评估技术的研究123

塑料封装集成电路可靠性鉴定129

塑料密封集成电路的可靠性152

微型电子器件的密封性实验(宇航空间标准AS1142)166

1977《半导体器件的可靠性 第3集》由于是年代较久的资料都绝版了,几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要,可向博主求助其电子版PDF文件(由中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 1977 北京:科学技术文献出版社;重庆分社 出版的版本) 。对合法合规的求助,我会当即受理并将下载地址发送给你。

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