《半导体器件的可靠性 第3集》
作者 | 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 编者 |
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出版 | 北京:科学技术文献出版社;重庆分社 |
参考页数 | 173 |
出版时间 | 1977(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 无 — 求助条款 |
PDF编号 | 89643908(仅供预览,未存储实际文件) |
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目录1
空间军用的可靠半导体器件的制造1
金属化的失效22
水在氧化膜中的沾污76
微波固体器件的可靠性物理研究102
半导体器件鉴定与失效分析中采用红外评估技术的研究123
塑料封装集成电路可靠性鉴定129
塑料密封集成电路的可靠性152
微型电子器件的密封性实验(宇航空间标准AS1142)166
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高度相关资料
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- 半导体器件
- 1978 北京:商务印书馆
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- 半导体器件可靠性专集
- 1974.07 科学技术文献出版社
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- 半导体器件
- 国外电子器件编辑
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- 半导体可靠性专辑
- 国营北京电子管厂技术情报室
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- 半导体器件可靠性手册
- 电子工业部通信广播电视工业管理局
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- 半导体器件可靠性选用手册
- 上海市广播电视工业
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- 现代半导体器件的可靠性理论与技术
- 1991 北京:电子工业出版社
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- 微电子器件可靠性
- 1999 西安:西安电子科技大学出版社
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- 半导体器件的可靠性 第2集
- 1976 北京:科学技术文献出版社;重庆分社
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- 半导体器件的可靠性 专集
- 1974 北京:科学技术文献出版社;重庆分社
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- 半导体器件
- 1990 北京:人民邮电出版社
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- 机器可靠性
- 1983 成都:四川人民出版社
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- 半导体器件的应用
- 1979 北京:商务印书馆
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