《半导体器件的可靠性 第2集》
| 作者 | 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 编者 |
|---|---|
| 出版 | 北京：科学技术文献出版社；重庆分社 |
| 参考页数 | 68 |
| 出版时间 | 1976（求助前请核对） 目录预览 |
| ISBN号 | 无 — 求助条款 |
| PDF编号 | 89889078（仅供预览，未存储实际文件） |
| 求助格式 | 扫描PDF（若分多册发行，每次仅能受理1册） |
第二部分 单块微电路的构造1
第四部分 线性单块微电路1
第三部分 数字单块微电路1
目录1
第一部分 导论1
单块微电路的应用1
单块微电路的失效机构58
第一部分 导论58
第二部分 单块微电路制造过程中产生的缺陷58
第三部分 失效机构的讨论58
第四部分 筛选方法58
第五部分 纠正措施58
1976《半导体器件的可靠性 第2集》由于是年代较久的资料都绝版了，几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要，可向博主求助其电子版PDF文件（由中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 1976 北京：科学技术文献出版社；重庆分社 出版的版本） 。对合法合规的求助，我会当即受理并将下载地址发送给你。
高度相关资料
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- 半导体可靠性专辑
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- 现代半导体器件的可靠性理论与技术
- 1991 北京：电子工业出版社
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- 微电子器件可靠性
- 1999 西安：西安电子科技大学出版社
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- 半导体器件的可靠性 专集
- 1974 北京：科学技术文献出版社；重庆分社
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- 半导体器件的可靠性 第3集
- 1977 北京：科学技术文献出版社；重庆分社
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- 半导体器件
- 1990 北京：人民邮电出版社
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- 机器可靠性
- 1983 成都：四川人民出版社
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- 半导体器件的应用
- 1979 北京：商务印书馆
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