《电子元器件的可靠性》求取 ⇩

第一章可靠性的基本概念及其主要数量特征1

1—1 可靠性定义1

1—2 可靠性研究的重要性2

1—3 可靠性常用术语和主要特征量2

1—4 可靠性数据的搜集6

习题8

参考资料8

第二章电子元器件的失效规律及常用概率纸的结构和用法9

2—1 电子元器件的失效规律9

2—2 威布尔分布10

2—3 指数分布——偶然失效期的失效分布19

2—4 正态分布或高斯分布20

习题26

参考资料27

第三章可靠性试验及数据处理方法28

3-1 可靠性试验的分类28

3—2 指数分布情况的寿命试验32

3—3 恒定应力加速寿命试验42

3—4 可靠性筛选试验59

3—5 电子元器件失效率鉴定试验74

3—6 失效分布类型的检验81

3—7 抽样理论及抽样方法86

习题93

参考资料95

4—1 失效物理的目标和作用96

第四章电子元器件的失效物理基础96

4—2 材料的结构、应力和失效97

4—3 失效物理模型100

4—4 失效物理的应用104

参考资料105

第五章失效分析方法106

5—1 失效分析的目的和内容106

5—2 失效分析程序和失效分析的一般原则107

5—3 常用微观分析设备概述113

5—4 半导体器件的失效机理及其分析114

5—5 电阻器的失效机理与分析118

5—6 电容器的失效机理与分析125

5—7 接触元件失效机理与分析131

5—8 磁性器件失效机理与分析138

5—9 敏感器件失效机理与分析143

参考资料146

第六章可靠性管理149

6—1 可靠性数据资料管理149

6—2 可靠性计划150

6—3 设计阶段的可靠性管理152

6—4 制造阶段的可靠性管理153

6—5 可靠性增长管理154

6—6 可靠性监督和可靠性保证体系156

参考资料158

附录159