《半导体器件的可靠性 第4集》求取 ⇩
| 作者 | 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 编者 |
|---|---|
| 出版 | 北京：科学技术文献出版社；重庆分社 |
| 参考页数 | 99 ✅ 真实服务 非骗流量 ❤️ |
| 出版时间 | 1977（求助前请核对） 目录预览 |
| ISBN号 | 15176·132 — 违规投诉 / 求助条款 |
| PDF编号 | 81877168（学习资料 勿作它用） |
| 求助格式 | 扫描PDF（若分多册发行，每次仅能受理1册） |
目 录1
电子学中的电迁移和失效：引言1
失效分析（综述）9
SiO2膜中的电击穿机理11
使用俄歇能谱学和其它先进分析技术来分析微电子材料20
采用质子束对表面的分析23
用电子探针微分析器对半导体的观察29
互连和微型接头的无损测试（总结报告）37
利用扫描电子显微镜测量p-n结深度51
扫描电子显微镜在半导体器件中的应用53
扫描电子显微镜在半导体器件的薄膜研究中的应用68
离子微探针在半导体失效分析中的应用73
硅中电活性杂质沉积缺陷的电子显微镜研究75
中规模集成数字逻辑阵列87
限制大规模集成电路性能和可靠性的材料和界面因素89
1977《半导体器件的可靠性 第4集》由于是年代较久的资料都绝版了，几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要，可向博主求助其电子版PDF文件（由中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 1977 北京：科学技术文献出版社；重庆分社 出版的版本） 。对合法合规的求助，我会当即受理并将下载地址发送给你。
高度相关资料
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- 1976 北京：科学技术文献出版社；重庆分社
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- 半导体器件的可靠性 专集
- 1974 北京：科学技术文献出版社；重庆分社
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- 1977 北京：科学技术文献出版社；重庆分社
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- 半导体器件
- 1990 北京：人民邮电出版社
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- 机器可靠性
- 1983 成都：四川人民出版社
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