《表1 经不同浓度HATT和HXTT处理1 h后铜电极的交流阻抗谱参数》
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《铜表面三唑硫酮衍生物的自组装及其抗盐酸腐蚀的电化学性能》
将图4中各曲线相应的等效电路(见图5)拟合得到的数据见表1。结果表明,裸铜电极的Ydl数值较大,ndl值较小,说明裸铜电极的双电层电容较大,弥散效应明显。经缓蚀剂HATT或HXTT处理后,铜电极/溶液(0.5 mol/L HCl)界面间的电荷传递电阻Rct增大,当HATT或HXTT浓度达到2×10-4 mol/L时,Rct分别增加到6985Ω?cm2和6334Ω?cm2,比裸铜电极的增加了数十倍。另外,HATT或HXTT处理后铜电极的电化学阻抗等效电路中出现了膜电阻和膜电容,且随着它们浓度的增加,膜电阻增大,而双电层电容的Ydl值和膜电容的Ysam值减小。这是由于铜表面存在自组装膜,削弱了电极表面与水溶液的接触,导致铜与溶液界面间的电容减小[30-32]。双电层电容的Ydl值和膜电容的Ysam值的求算分别见式(1)和(2)[33]:
图表编号 | XD0088114400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.01 |
作者 | 刘琴、刘广义、牛晓雪、曲肖彦 |
绘制单位 | 中南大学化学化工学院、中南大学化学化工学院、中南大学化学化工学院、中南大学化学化工学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |