《表5 5×10-5 mol/L的HATT和HXTT处理不同时间后铜电极的Tafel曲线参数》
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《铜表面三唑硫酮衍生物的自组装及其抗盐酸腐蚀的电化学性能》
图10、11及表6还表明,HATT或HXTT浓度对铜电极循环伏安曲线中还原峰的影响小,峰位置基本保持不变。可能是经高电位处理后,铜电极表面的自组装膜被大部分破坏或大部分从电极表面脱附,仅少量HATT或HXTT存在于电极表面。当进行第二圈和第三圈循环伏安扫描时,由于电极表面不再存在缓蚀剂分子膜,循环伏安曲线的形状、峰位置及峰电流密度等与裸铜的接近。
图表编号 | XD0088114900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.01 |
作者 | 刘琴、刘广义、牛晓雪、曲肖彦 |
绘制单位 | 中南大学化学化工学院、中南大学化学化工学院、中南大学化学化工学院、中南大学化学化工学院 |
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