《表1 基于光栅的位移测量系统优缺点对照表》
综上所述,基于光栅的位移测量技术已经从传统的透射型双栅线位移形式发展到平面位移、三维位移形式,同时衍生出了多种以光栅衍射为基础的高精度位移测量系统,本文将几种有代表性的光栅测量系统的优缺点列于表1所示。
图表编号 | XD0082396900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.08.01 |
作者 | 高旭、李舒航、马庆林、陈伟 |
绘制单位 | 长春理工大学光电工程学院、长春理工大学光电工程学院、长春理工大学光电工程学院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |