《表2 缺陷尺寸对阵元数量选择结果的影响》
当断丝直径固定为a=7 mm,缺陷宽度b从2 mm逐步增加至18 mm时,缺陷形成漏磁场在空间的有效分布范围稍有增加(γ从11°增加19°),所需的阵元数量可从33减少至19,如表2所示。上述分析结果表明,进行漏磁检测圆环阵列传感器研制时,阵元数量的合理选取需依据检测缺陷的尺寸要求进行具体分析。
图表编号 | XD0080943600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.04.01 |
作者 | 杨宁祥、刘秀成、陈英红、肖君武 |
绘制单位 | 广东省特种设备检测研究院珠海检测院、北京工业大学机械工程与应用电子技术学院、广东省特种设备检测研究院珠海检测院、北京工业大学机械工程与应用电子技术学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |