《表1 提离距离对阵元数量选择结果的影响》

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《斜拉索表层断丝缺陷漏磁检测圆环阵列传感器》

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为分析实际缺陷尺寸参数对阵元数量选择结果的影响规律，计算了断丝直径和宽度变化时轴向漏磁场的分布曲线，同样以-6 dB为分析阈值，提取出磁敏元件应满足的有效探测角度范围。如表1所示，当缺陷宽度b固定为6 mm，断丝直径从1.5 mm逐步增加至9.5 mm时，缺陷形成的漏磁场逐渐增强，在空间的有效分布范围扩大，需要采用的阵元数量可以大幅降低。