《表2 退火态高纯铝内部缺陷尺寸和数密度数据统计结果》

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《中子辐照金属材料的脆化模型研究》

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采用TEM显微技术分析了实验用平行样品内部微结构特性.结果表明，样品内部位错密度极低，均为1012 m-2量级，如图3和表2所示（0 dpa表示未辐照高纯铝）；其准静态拉伸屈服强度（σ0.2=15 MPa）与文献[34]报道的完全退火太高纯铝实验结果也一致，再次表明材料确实为完全退火态.随着辐照剂量的增加，高纯铝内部辐照孔洞的尺寸越来越大，数密度越来越高，如图3和表2所示.由于位错环尺寸和数密度均太小，即便是0.83 dpa样品内部都需要变换十几个视场才能够找到一个位错环，如图3所示.因此，无法准确统计其具体数值，但根据0.83 dpa样品内部观察到的极少量位错环尺寸和数量信息，大致能够给出所有样品内部位错环尺寸上限值为15 nm，数密度上限值为1019 m-3，如表2所示.