《表3 退火态和应变率为4%的试样中的位错密度》
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由于晶体取向不同,形变过程中位错组态的发展过程也不相同。从表3可以看出,磁场中拉伸的试样的位错密度较低。应变量相同,位错密度差异很大,说明晶体取向影响位错增殖过程。位错密度越大,材料的强度越高,位错密度的差异是单晶力学性能各向异性的直接原因。根据双交滑移机制,螺型位错经双交滑移后形成难以运动的刃型割阶,即对原位错产生钉扎作用,并使原位错在新滑移面{111}上滑移时成为1个F-R位错源[25]。在第2个{111}面扩展出来的位错环又可以通过交滑移转移到第3个{111}面上增殖,从而使位错密度迅速增大。<100>试样滑移系最多,双交滑移产生了大量位错源,位错不断增殖、交割,形成了位错密度较高的位错网。<110>和<111>试样的滑移带没有出现波浪形(见图4),说明位错没有频繁地交滑移,位错源数量少,位错密度低。
图表编号 | XD00138013100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.01.31 |
作者 | 姬鹏云、王均安、任忠鸣、王江、张园锋 |
绘制单位 | 上海大学材料科学与工程学院、上海大学材料科学与工程学院、上海大学材料科学与工程学院、上海大学材料科学与工程学院、上海大学材料科学与工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |