《表6 精密度试验结果：电感耦合等离子体发射光谱法测定高纯铝中硅》

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《电感耦合等离子体发射光谱法测定高纯铝中硅》

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用本方法对4个标准样品平行测定8次，测定结果见表6。由表6中数据可见，对于含量范围在0.001%～0.010%范围的硅元素，测定结果的相对标准偏差小于11%；对于含量范围在0.01%～0.015%范围的硅元素，测定结果的相对标准偏差小于8%，表明本方法精密度较高。