《表2 不同激发晶片数量下缺陷检测结果》

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《采气树超声相控阵检测工艺优化与应用》

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（2）一次性激发晶片数量。带有长方形晶片的线性相控阵探头，所发出的声束会在电子偏转主动方向上聚焦，而在被动方向上不会聚焦。晶片数量的增加，会增强聚焦锐利度，但对于非焦点位置的能量则变得很弱，容易导致漏检或被检测出的缺陷精度降低，为了更好的保证检测准确性，比较了一次性激发1、2、4、8、16个晶片，根据试件的腐蚀缺陷检测结果，把一次性激发晶片设为4。实验结果如表2。