《表1 Bi0与本征缺陷 (ODC (I) 和POL) 相互作用的形成能》
注:每组缺陷类型样本取自3个不同位置。
通过Bi0与弗伦克尔缺陷反应路径的分析,发现在Bi0与缺陷的反应过程中,反应路径的不同取决于缺陷的类型。为了进一步研究缺陷是如何影响反应路径的,我们计算了Bi0与这两种缺陷反应的形成能来估计反应产物的稳定性,结果如表1所示。由于石英光纤中周围的无序网络会对反应过程产生影响,所以采取了增加样本的方法来降低这种影响产生的误差。我们发现每个样本中各缺陷类型的反应过程虽然具有微小的区别,但是总体上显示出相似的趋势。形成能由下式定义:
图表编号 | XD0073376100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.07.10 |
作者 | 杨斌、贾宝楠、张杰、孙仕豪、芦鹏飞 |
绘制单位 | 科技部高技术研究发展中心、北京邮电大学信息光子学与光通信研究院、北京邮电大学信息光子学与光通信研究院、北京邮电大学信息光子学与光通信研究院、北京邮电大学信息光子学与光通信研究院 |
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