《表3 谱线强度和信号噪声随射频发生功率的变化》

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《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钴产品生产过程净化液中硫酸根》

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确定元素分析线后，谱线发射强度主要由射频发生功率、雾化气流量、辅助气流量、积分方式和积分时间共同决定[6-9]。在其他实验条件一致的情况下，在750～1 400W范围内改变仪器的射频发生功率，测试标准溶液系列（5.00g/L钴基体）及基体空白的灵敏度和稳定性，结果见表3。