《表4 CuII 461.966 nm、CuI 510.554 nm和CuI 515.324 nm谱线随时间变化》

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《Ni/Cu复合多层膜电爆炸等离子体发射光谱特性及飞片推动性能》

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为了更清楚地观察不同爆炸箔样品中发射光谱谱线强度的变化规律，首先对比了（Ni200Cu300）8、（Ni300Cu400）5Ni300和纯Cu发射光谱中较强的几条谱线（CuⅡ461.966 nm、CuⅠ510.554 nm和CuⅠ515.324 nm），结果如表4所示。