《表3 样品芯片测试数据表》
提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式
外延片产品通过芯片加工，经过蒸镀ITO扩展电极，刻蚀n型台面，蒸镀p面和n面电极，研磨抛光、划裂片等工艺，制作得到尺寸为325μm*300μm的芯片实验获得的外延片样品加工为1312标准管芯，并使用维明LED617对芯片进行光电性能测试。正向电压Vf、峰值波长WLP和发光功率IV均为常规20mA恒流测试条件下测试获得。测试数据如表3:
| 图表编号 | XD0057239800 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.04.20 |
| 作者 | 孟锡俊、李建婷 |
| 绘制单位 | 西安中为光电科技有限公司、西安中为光电科技有限公司 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
