《表2 芯片数据建立时间测试结果Tab.2 Data setup time test results of the chip》

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《IP硬核无损测试技术》

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DX_IN_PAD和CLK_IN_PAD输入两个相同的方波信号（对频率没有要求，1 MHz和1 k Hz均可），它们的上升沿要求严格对齐（偏差小于100 ps）。测试分两步进行，首先测量粗调值:固定DL1_LSEL_PAD，增加DL1_BSEL_PAD；接着测量细调值:固定DL1_BSEL_PAD，增加DL1_LSEL_PAD。观察SRAM_Q4FSM，如果一段时间内SRAM_Q4FSM都是高电平，分别记录DL1_BSEL_PAD与DL1_LSEL_PAD的值，通过计算得到芯片数据建立时间。本芯片在V93000测试平台完成测试，芯片需要通过可被该测试平台识别的测试码来进行测试，其仿真波形图如图6所示。通过上述测试方法，共计对20只芯片的数据建立时间参数分别测试3次，其数据结果如表2所示，测试精度可达ps级。