《表2 金、铜线不同键合轨道温度试封结果》
注:不同的线径在键合轨道内停留的时间不相同正常情况下:铜线键合轨道温度:200℃金线键合轨道温度:220℃
键合不同轨道温度对框架形变无明显影响,不是主要因素,如表2、3、4所示。
图表编号 | XD0055731100 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.06.20 |
作者 | 郑娟莉、杜椿楣 |
绘制单位 | 通富微电子股份有限公司、通富微电子股份有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
注:不同的线径在键合轨道内停留的时间不相同正常情况下:铜线键合轨道温度:200℃金线键合轨道温度:220℃
键合不同轨道温度对框架形变无明显影响,不是主要因素,如表2、3、4所示。
图表编号 | XD0055731100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.20 |
作者 | 郑娟莉、杜椿楣 |
绘制单位 | 通富微电子股份有限公司、通富微电子股份有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |