《表3 不同键合线短接判定方法比测结果》
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《一种基于FPGA的冲击应力下空封键合线短接判定方法》
对上文所述的各种检测键合线短接的方法进行测试比对后,得出的比测结果如表3所示,显然本文所提出的基于FPGA的冲击应力下空封键合线短接判定方法检测到短接的概率更准,确定管脚位置更快捷。
图表编号 | XD0016612900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.08.20 |
作者 | 黄晓彬、王培培、季振凯 |
绘制单位 | 无锡中微亿芯有限公司、无锡中微亿芯有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |