《表4 目标测试路径与可分离输入变量及其起始分离迁移》
为考察使用IIVS方法后遗传算法的稳定性,从ATM模型的实验路径中随机挑选4条测试路径进行进一步实验,路径的相关信息如表4所示。以这4条路径作为测试路径,使用GSS-GA与IIVS-GA分别进行100次实验,输入变量取值范围为[0,1 023],统计2种方法生成有效测试数据时所需的迭代次数并绘制为箱线图,结果如图6所示。
图表编号 | XD0050001200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.01 |
作者 | 潘雄、郝帅、苑政国、宋凝芳 |
绘制单位 | 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院、北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院、北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院、北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |