《表2 6H-SiC晶片抛光表面的碳物质相对百分比含量》
/%
表2比较了抛光后6H-SiC晶片Si面和C面的C物质的相对百分比含量(%)。从表中数据可知,Si面的氧化产物含量(如Si4-C4-x-O2、Si4-C4-O4、C-O和C=O)比C面的高,这表明C面的氧化物比Si面的更易于被去除。
图表编号 | XD0039607300 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.01.01 |
作者 | 陈国美、倪自丰、钱善华、刘远祥、杜春宽、周凌、徐伊岑、赵永武 |
绘制单位 | 无锡商业职业技术学院机电技术学院、江南大学机械工程学院、江南大学机械工程学院、江南大学机械工程学院、无锡商业职业技术学院机电技术学院、无锡商业职业技术学院机电技术学院、无锡商业职业技术学院机电技术学院、无锡商业职业技术学院机电技术学院、江南大学机械工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |