《表5 故障判断结果Table 5 Fault diagnosis results》

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《一种新的胚胎电子细胞阵列测试结构》

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其中:id为电子细胞的编号；cellnum为电子细胞的个数；gene为电子细胞的基因编码；cellsim为细胞功能模拟函数，根据在测试数据中获得的输入端数据indata，输出端数据outdata，当前的触发器状态d，触发器真实响应dr和电子细胞的基因实现故障判断功能；Dsim为触发器响应模拟函数，当电子细胞执行时序功能时，Dsim根据当前的输入端数据indata和细胞基因编码gene，返回下一时刻触发器正常情况下的状态dn；Osim为输出响应模拟函数，因为电子细胞的开关盒宽度为2，所以电子细胞共有4个输出端，针对每个输出端采用Osim进行模拟，得到正常情况下的输出端响应数据o。比较触发器和输出端的模拟响应与真实响应，如果相同，则电子细胞无故障，否则电子细胞出现故障。在故障判断的过程中，空格表示未扫描的数据，进行故障判断时，未扫描的数据均认为是正常数据。经过故障判断得到的电子细胞的故障情况如表5所示，坐标为（1，0）的细胞被判断为故障，成功完成故障定位。