《表3 最小测试向量集Table 3 Minimal test vector set》

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《一种新的胚胎电子细胞阵列测试结构》

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采用4.2节给出的方法，对s27电路进行等价变换，然后根据电路的故障集，生成最小测试向量集，并使用fsim故障仿真器确定每个测试向量能够检测的具体故障并存储，结果如表3所示。得到的测试向量集的故障覆盖率为100%。