《表3 两种矩在不同分类器下的识别率》
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《基于Krawtchouk矩和支持向量机的印鉴真伪识别》
表2序号1到14记录了真印鉴的识别结果,序号15到44记录了假印鉴的识别结果;A、B、C分别表示Zernike-SVM、krawtchouk-SVM、krawtchouk-GASVM方法。方法A有1枚真印鉴和6枚假印鉴被识别错误;方法B第13、16、30、35枚印鉴被识别错误,其中第16枚、35枚仅是笔画尺寸发生极小变化,第30枚是汉字在竖直方向发生微小位移,在一定局部区域范围内Krawtchouk矩对于位移、笔画尺寸极小变化不敏感,矩特征数据区分不明显;方法C仅第13枚被识别错误,第13枚是笔画缺失严重的印鉴,印鉴本身的信息量不足,经过GA优化的SVM能充分利用印鉴Krawtchouk矩特征数据确定最优分类面,识别效果明显优于方法A、B。表3记录了采用两种矩在相对欧氏距离(记为Zernike-O和Krawtchouk-O)、SVM及遗传算法优化SVM下的识别率。从表中可以得出Krawtchouk矩对于印鉴特征表达的性能要优于Zernike矩,并且经过遗传算法优化的支持向量机使印鉴识别的精度得到提高。
图表编号 | XD0022456100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.05.01 |
作者 | 朱胜银、赵红东、杨志明、王敬、李宇海 |
绘制单位 | 河北工业大学电子信息工程学院、河北工业大学电子信息工程学院、河北工业大学电子信息工程学院、河北工业大学电子信息工程学院、脉冲功率激光技术国家重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |