《表3 常用封装基板材料物理性质》
封装基板材料与MEMS芯片材料之间的CTE差值是封装应力的最主要来源,减小基板与芯片之间的CTE的差值能有效减小封装应力。常用MEMS芯片材料的物理性质如表2所示,表3为常用的封装基板材料物理性质参数。
图表编号 | XD00211984100 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.12.01 |
作者 | 吴忠烨、杨尚书、吴国强 |
绘制单位 | 武汉大学工业科学研究院、武汉大学工业科学研究院、武汉大学工业科学研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
封装基板材料与MEMS芯片材料之间的CTE差值是封装应力的最主要来源,减小基板与芯片之间的CTE的差值能有效减小封装应力。常用MEMS芯片材料的物理性质如表2所示,表3为常用的封装基板材料物理性质参数。
图表编号 | XD00211984100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.12.01 |
作者 | 吴忠烨、杨尚书、吴国强 |
绘制单位 | 武汉大学工业科学研究院、武汉大学工业科学研究院、武汉大学工业科学研究院 |
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