《表2 材料参数:三维封装电迁移Cu互连线的多物理场模拟仿真》
互连线材料设置为软件自带材料库Cu(copper),衬底材料为mems模块中的Si-Silicon (single-crystal,isotropic)。其材料参数如表2所示。
图表编号 | XD00190651300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.01.25 |
作者 | 张墅野、鲍天宇、修子扬、何鹏 |
绘制单位 | 哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室、哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室、哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室、哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |