《表3 粘结芯片与烧结芯片剪切力对比Table 3 Comparison of the shear force between the bonded chip and sintered chip》
对功率芯片、瓷片电容和瓷片电阻进行剪切力测试,所取样品数量均为20,将测试结果与烧结样品测试结果进行对比,计算样品剪切力平均值,如表3所示。
图表编号 | XD00188442900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.05.15 |
作者 | 洪求龙、付兴昌、冀乃一、柳溪溪 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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