《表3 粘结芯片与烧结芯片剪切力对比Table 3 Comparison of the shear force between the bonded chip and sintered chip》

《表3 粘结芯片与烧结芯片剪切力对比Table 3 Comparison of the shear force between the bonded chip and sintered chip》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《高热导率纳米银胶在大功率器件上的应用》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

对功率芯片、瓷片电容和瓷片电阻进行剪切力测试,所取样品数量均为20,将测试结果与烧结样品测试结果进行对比,计算样品剪切力平均值,如表3所示。