《表2 器件阻断电压:一种具有延伸浮空P基区结构的CSTBT器件特性分析及关键参数优化》
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《一种具有延伸浮空P基区结构的CSTBT器件特性分析及关键参数优化》
CSTBT器件耐压水平位于其他2种器件之间,新型器件EFP CSTBT耐压水平最高。新型器件EFP CSTBT对第2部分浮空P基区进行了改进,延伸浮空P基区的引入可以提高器件的阻断电压,如图4所示。不同器件的耐压数据如表2所示,EFP CSTBT耐压能力比FP CSTBT和CSTBT分别提高了26.5%和6.97%。由此可知,延伸浮空P基区对提高器件阻断电压效果较为显著。
图表编号 | XD00184335100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.12.05 |
作者 | 孙海峰、蔡江、张红玉 |
绘制单位 | 华北电力大学电气与电子工程学院、华北电力大学电气与电子工程学院、华北电力大学电气与电子工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |