《表2 样品A、B、C、D的晶粒尺寸Tab.2 Grain size of sample A, B, C and D nm》
根据图2中4个样品的XRD谱图,采用Scherrer方程[24]计算薄膜的平均晶粒尺寸,其公式如下:d=0.89λ/Bcosθ。式中d是晶粒的平均尺寸(单位nm),λ是X射线衍射的波长(Cu Kα:0.154 nm),B是衍射峰半高宽度(单位rad),θ是布拉格衍射角(单位°)。通过计算得到样品沿不同晶向的平均晶粒尺寸,如表2所示。总体来看,样品沿不同晶向的平均晶粒尺寸随着束流的增加而增大,但当束流高于1.5 mA之后,平均晶粒尺寸变化不大。样品A、B、C中六角Zn O沿(002)晶向的晶粒尺寸较大,样品D略有不同,六角Zn O沿(103)晶向的晶粒尺寸较大,说明更高退火温度使得(103)晶向的晶粒易于长大。
图表编号 | XD0017623400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.03.01 |
作者 | 李艳丽、李辉、孔祥东、韩立、李晓娜 |
绘制单位 | 中国科学院电工研究所电子束曝光技术研究组、中国科学院大学、中国科学院大学、中国科学院电工研究所太阳能电池技术研究部、中国科学院电工研究所电子束曝光技术研究组、中国科学院大学、中国科学院电工研究所电子束曝光技术研究组、中国科学院大学、中国科学院电工研究所电子束曝光技术研究组、中国科学院大学 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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