《表5 拟合M-S曲线获得合金表面腐蚀产物膜的平带电位和施主密度》
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《Sc对Al-3Cu-1Li合金酸性条件下腐蚀行为的影响》
M-S曲线广泛用于研究金属表面腐蚀产物膜或钝化膜的半导体特征，膜具有的半导体性质与其组成和结构有关。Al-3Cu-1Li-x Sc合金自腐蚀电位下浸泡1 800 s后的M-S曲线如图6所示，4种合金的M-S曲线的斜率都为正，具有n型半导体特征（氧空位为主要缺陷），Sc没有改变该合金表面腐蚀产物膜具有的半导体特征。对曲线进行拟合，获得4种合金的平带电位结果见表5所示，可见Sc添加后该合金表面腐蚀产物膜的平带电位负移。平带电位与半导体的费米能级满足如下关系式[23]:
| 图表编号 | XD00160048600 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2020.04.25 |
| 作者 | 邓佳诚、王赫男、李昊宸 |
| 绘制单位 | 沈阳航空航天大学材料科学与工程学院、沈阳航空航天大学材料科学与工程学院、沈阳航空航天大学材料科学与工程学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
