《Tab.1 The data type for algorithm》
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《三维集成电路绑定中测试成本缩减的优化堆叠顺序（英文）》
The parameters of each die or each partial stack w ill be stored in the data type as illustrated in Tab.1.The first 6parameters reflect the information of each die，and they w ill be used in Algorithm 1 for test time optimization.The latter 3 parameters，respectively，describe the test time，discarded die area，and the number of discarded TSVs of each partial stack，w hich w ill be used in Algorithm 2 for test cost optimization.
| 图表编号 | XD0015628700 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2018.06.01 |
| 作者 | 倪天明、梁华国、聂牧、卞景昌、黄正峰、徐秀敏、方祥圣 |
| 绘制单位 | 合肥工业大学电子科学与应用物理学院、合肥学院电子信息与电气工程系、合肥工业大学电子科学与应用物理学院、合肥工业大学计算机与信息学院、合肥工业大学电子科学与应用物理学院、合肥工业大学电子科学与应用物理学院、合肥工业大学电子科学与应用物理学院、合肥工业大学计算机与信息学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
