《表3 铜在不同过氧化氢体积分数下的腐蚀电位和腐蚀电流密度》
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《硅通孔化学机械平坦化中铜去除的电化学与选择性研究》
在甘氨酸6%、p H=10的条件下,铜电极在不同过氧化氢体积分数的溶液中的动电位极化曲线如图4所示,相应的腐蚀电位和腐蚀电流密度列于表3。随着过氧化氢体积分数增加,腐蚀电位,腐蚀电流密度减小。该结果表明,随着过氧化氢的体积分数增加,铜的腐蚀逐渐减缓。这可能是因为过氧化氢和铜生成的氧化物附着在金属表面,从而阻止了铜与溶液的接触。
图表编号 | XD00148880000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.05.15 |
作者 | 刘旭阳、张保国、王如 |
绘制单位 | 河北工业大学电子信息工程学院、河北工业大学天津市电子材料与器件重点实验室、河北工业大学电子信息工程学院、河北工业大学天津市电子材料与器件重点实验室、河北工业大学电子信息工程学院、河北工业大学天津市电子材料与器件重点实验室 |
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