《表2 LVT、RVT的统计情况》
对5组样品的WAT(Wafer Acceptance Test)参数NLVT、NRVT、PLVT、PRVT进行测试,数据如表2所示。
图表编号 | XD00131245200 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.03.25 |
作者 | 林良飞 |
绘制单位 | 福建省电子信息应用技术研究院有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
对5组样品的WAT(Wafer Acceptance Test)参数NLVT、NRVT、PLVT、PRVT进行测试,数据如表2所示。
图表编号 | XD00131245200 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.03.25 |
作者 | 林良飞 |
绘制单位 | 福建省电子信息应用技术研究院有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |