《表1 样本工艺条件:氟掺杂对非晶硅薄膜特性的影响》
采用PVD磁控溅射方法在衬底上分别生长金属电极和阻挡层、不同厚度的非晶硅薄膜以及下金属淀积和阻挡层,形成非晶薄膜电容结构,然后通过光刻、腐蚀等工序,完成非晶薄膜电容结构的制备。非晶薄膜的掺杂在上电极沉积前完成,采用氩携带气体的方式对非晶薄膜进行原位掺杂,样本工艺条件如表1所示。
图表编号 | XD00130964300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.03.20 |
作者 | 郑若成、王印权、刘佰清、郑良晨 |
绘制单位 | 中科芯集成电路有限公司、中科芯集成电路有限公司、中科芯集成电路有限公司、中科芯集成电路有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |