《表1 在0.5 V偏置电压和激光照射(1064 nm)下,基于各个温度热还原所得r GO薄膜制备的光电探测器件的光响应率》
提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《聚二甲基硅氧烷封装石墨烯基柔性红外探测器的制备及其应用》
P-r GO-P光电探测器之所以能拥有优秀的压力感应性能,一方面可归因于我们所使用r GO薄膜是通过逐层滴涂r GO/乙醇分散液来制备的,经过高温热还原,r GO薄膜在微观上仍保持着由r GO薄层堆叠出的多层结构,这种结构使得P-r GO-P柔性器件在受到弯折和压力时,片层间距被压缩,原本的接触面积发生变化,使电阻随之改变,进而转变为电信号输出.另一方面,PDMS封装层没有和r GO薄膜层完全紧密地贴合,而是留有一定的空隙,两侧的空隙保证了器件在受到弯曲和挤压时,r GO薄膜不会因为PDMS的粘附而受到过多的应力,拥有足够的缓冲空间来保持薄膜的完整性.这两方面都可以从P-r GO-P柔性器件的SEM截面示意图中清楚地观察到(图7d).
图表编号 | XD00119075500 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.02.15 |
作者 | 赵雅婧、谢亮、马兰超、贺军辉 |
绘制单位 | 中国科学院理化技术研究所微纳材料与技术研究中心功能纳米材料实验室、中国科学院大学、中国科学院理化技术研究所微纳材料与技术研究中心功能纳米材料实验室、北京石油化工学院材料科学与工程学院、北京石油化工学院材料科学与工程学院、中国科学院理化技术研究所微纳材料与技术研究中心功能纳米材料实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |