《表1 CMOS光电器件单粒子效应敏感性对比》
兰州空间技术物理所安恒等[28]利用激光聚焦定位的优势,结合CMOS图像传感器的内部结构特点,分析了某国产CIS内部不同功能单元对单粒子效应的敏感性,结果如表1所示。试验中通过示波器监测CIS输出波形,和电源电流变化判断器件发生何种单粒子现象。然后通过采用能量渐近的方法确定CIS发生单粒子效应的阈值。
图表编号 | XD00118617300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.01.15 |
作者 | 蔡毓龙、李豫东、文林、郭旗 |
绘制单位 | 中国科学院新疆理化技术研究所中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室、新疆电子信息材料与器件重点实验室、中国科学院大学、中国科学院新疆理化技术研究所中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室、新疆电子信息材料与器件重点实验室、中国科学院新疆理化技术研究所中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室、新疆电子信息材料与器件重点实验室、中国科学院新疆理化技术研究所中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室、新疆电子信息材料与器件重点实验室 |
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