《表3 用不同计算方法得到的器件质子单粒子翻转截面曲线Weibull拟合参数表》

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《微电子器件重离子推导质子单粒子效应截面不同计算方法比较研究》

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图1为用经验公式计算得到的器件质子单粒子翻转截面数据，通过式（12）进行Weibull拟合得到的截面曲线相关参数如表3所列。Weibull拟合是单粒子效应研究领域一种常见的数据拟合方法，主要由四个参数构成，其中A代表器件的单粒子效应饱和截面值，L0代表器件单粒子翻转阈值，W是宽度参数，S是无量纲指数。同时，通过Weibull拟合得到的四个参数值恰好是单粒子效应空间错误率预估研究领域最常用软件之一Space Radiation软件计算单粒子空间错误率的输入值。