《表3 200 ke V He+离子辐照前后锐钛矿Ti O2薄膜电阻率》
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《200 keV He~+辐照改性锐钛矿TiO_2薄膜初步研究》
对经能量为200 ke V He+离子辐照后的锐钛矿Ti O2薄膜进行四探针表征其电阻率，结果如表3所示。
| 图表编号 | XD00111628000 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.11.20 |
| 作者 | 宋晓东、徐宇、王佳恒、徐国庆、赵宗方 |
| 绘制单位 | 中国核动力研究设计院、中国核动力研究设计院、中国核动力研究设计院、中国核动力研究设计院、中国核动力研究设计院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
