《用半导体探测器探测α粒子》求取 ⇩

目录1

第一篇 用半导体探测器测量溶液里α辐射体的放射性5

第一章 用半导体探测器探测带电粒子7

1.1 探测器7

1.1.1 P-N结7

1.1.2 面垒型探测器12

1.2 电子线路12

1.2.1 电荷灵敏前置放大器13

1.2.2 探测器和放大器的总噪声及能量分辨率15

2.1 厚源的α谱19

第二章 厚源的α辐射19

2.1.1 能谱举例22

2.1.2 积分谱或甄别曲线24

2.2 加屏蔽后的厚源α谱27

2.2.1 有吸收层时的能谱举例30

2.2.2 有吸收层时的甄别曲线32

2.2.3 计数率随甄别阈变化的近似式33

22.4 吸收层和放射源里的最大射程和阻止本领的确定35

3.1 装置的介绍41

3.1.1 探头41

第三章 测量溶液里α辐射体浓度的装置41

3.1.2 液流迴路43

3.2 装置的特性44

3.2.1 探测效率44

3.2.2 计数率随浓度的变化46

3.2.3 探测器防护的选择49

结论50

第四章 溶液里α辐射体放射性的测量与不同能量α辐射体的分离51

4.1 钚溶液的能谱51

4.2 马库尔工厂的结果53

4.3 分别确定在同一溶液里钚和镅的放射性强度54

4.3.1 分界道的确定56

4.3.2 镅与钚放射性强度的分别确定60

4.3.3 钚-镅的测量精确度62

4.4 分别确定在同一溶液里铀和钚的放射性强度64

结论67

第二篇 在强β-γ场下探测α粒子。快放大线路与探测器匹配的研究69

第五章 β-γ射线对探测α的影响71

5.1 薄结的β吸收71

5.1.1 吸收规律71

5.1.2 平均能量损耗73

5.2.1 外加偏压引起的甄别曲线位移74

5.2 甄别曲线在外加偏压和β射线影响下的形变74

5.2.2 甄别曲线随β射线的位移77

5.2.3 外加偏压和甄别阈的选取79

5.3 脉冲的叠加80

5.3.1 计算由脉冲叠加产生的直流电压82

5.3.2 计算平均电压的涨落83

5.3.3 探测器反向电流的增加84

5.4 γ射线的影响84

结论86

第六章 电荷收集时间的计算87

6.1.1 由电子运动感应的电荷89

6.1 非全耗尽结89

6.1.2 由空穴运动感应的电荷90

6.1.3 射程R≥W的情况92

6.2 能量损耗dE/dX非常数时的情况93

6.2.1 射程R=W的情况95

6.3 全耗尽结的电荷收集97

6.3.1 射程R＜W98

6.3.2 射程R≥W98

6.3.3 粒子进入探测器很薄处的情况（R？W）100

6.3.4 载流子迁移率随电场的变化102

结论103

第七章 探测器输出脉冲的波形104

7.1 电压脉冲104

7.1.1 探测器的等效电路105

7.1.2 上升时间的测量107

7.1.3 说明110

7.2 电流脉冲111

7.2.1 电流脉冲的放大112

7.2.2 探测器固有电容的影响114

结论120

第八章 电流放大器与探测器匹配后的结果121

8.1 在强β-γ场下的α计数121

8.1.1 固体α源的探测121

8.1.2 在裂变产物溶液里测钚123

8.2 利用脉冲波形甄别α和β粒子126

8.2.1 α和β的脉冲波形129

8.2.2 甄别装置与应用130

8.3 带快电子线路的α谱仪133

结论135

参考文献188