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目录1

前言1

第一章 绪论1

§ 1-1 半导体探测器的特点和发展史1

§ 1-2 半导体探测器的现状与发展动向2

第二章 半导体探测器的工作原理、结构、类型、制备工艺和对材料的要求10

§ 2-1 半导体探测器的工作原理、结构和类型10

§ 2-2 半导体探测器的制备工艺原理和工艺流程27

§ 2-3 半导体探测器对材料的要求48

第三章 半导体探测器的电特性和核辐射探测特性及其测试方法60

§ 3-1 电特性60

§ 3-2 核辐射探测特性93

§ 4-1 带电粒子谱仪和粒子的鉴别154

第四章 半导体探测器的应用154

§ 4-2 β和电子谱仪169

§ 4-3 X射线的探测和测量176

§ 4-4 γ射线的探测和测量187

§ 4-5 中子探测和测量204

§ 4-6 在核防护工作中的应用——微弱放射性的测量211

§ 4-7 在高能、空间和等离子体物理中的应用212

§ 4-8 在医学、生物学中的应用215

第五章 探测器的存放、保管、使用注意事项以及使性能重新恢复的处理方法224

§ 5-1 引言224

§ 5-2 探测器的存放保管和使用注意事项224

§ 5-3 硅面垒探测器使用中可能出现的故障及其原因227

§ 5-4 使探测器性能重新恢复的处理方法229

§ 5-5 半导体探测器专用的低温装置231

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