《半导体存储器测试技术》
| 作者 | 上海半导体器件研究所情报资料室 编者 |
|---|---|
| 出版 | 上海半导体器件研究所 |
| 参考页数 | 168 |
| 出版时间 | 1977（求助前请核对） 目录预览 |
| ISBN号 | 无 — 求助条款 |
| PDF编号 | 82292498（仅供预览，未存储实际文件） |
| 求助格式 | 扫描PDF（若分多册发行，每次仅能受理1册） |
目录1
半导体存储器测试技术1
动态存储器15
半导体存储器测试18
MOS存储器的图形灵敏度27
4096位随机存取存储器的图形灵敏度29
MOS随机存取存储器的诊断性测试37
随机存取存储器的测试图形及测试对策44
4K随机存取存储器的测试问题及其解决方法52
严密、高速的“移动变反”测试图形61
存储器测试对策67
只读存储器和可编程序只读存储器的测试需要什么条件75
静态双极型随机存取存储器的测试86
在芯片和插件板一级测试双极型半导体存储器所遇到的问题97
电荷耦合存储器的测试原理99
多少测试项目才够数？111
存储器和大规模集成电路的时间测试的必要性116
器件测试系统之探讨131
第三代测试系统的新结构141
计算样品统计分布的四次测量及通知非正态性分布的一种快速工作程序147
汇编结构及改正算法153
高速存储器／随机逻辑测试系统160
1977《半导体存储器测试技术》由于是年代较久的资料都绝版了，几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要，可向博主求助其电子版PDF文件（由上海半导体器件研究所情报资料室 1977 上海半导体器件研究所 出版的版本） 。对合法合规的求助，我会当即受理并将下载地址发送给你。
高度相关资料
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- 高频、微波半导体器件的计量测试
- 1992 北京：中国计量出版社
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- 国外电子器件编辑
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- 半导体器件制造技术
- 1971
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- 半导体变流技术
- 1988 天津：天津大学出版社
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- 半导体变流技术
- 1986 北京：机械工业出版社
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- 半导体变流技术
- 1986 上海：上海科学技术文献出版社
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- 半导体器件
- 1990 北京：人民邮电出版社
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- 半导体器件
- 1978 北京：商务印书馆
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- 半导体存储器及其测试
- 1980 北京：科学出版社
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- 半导体器件
- 1958 北京：国防工业出版社
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- 半导体器件参数测试自动化
- 1966 北京：国防工业出版社
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- 半导体和半导体器件
- 1963 上海：上海科学技术出版社
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- 振动控制工程
- 1989 北京：航空工业出版社
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